背照式CCD光譜儀提供穩定、快速、分析解決方案
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背照式CCD光譜儀采用可編程脈沖全數字光源、高速CCD全譜采集系統、優化設計的光路等新技術,集合光譜自校正、單火花采集技術和光譜延時采集技術,高可靠性激發臺設計。背照式CCD光譜儀為用戶提供穩定、快速、的金屬材料分析解決方案。運營成本低,安全可靠。應用于冶金、鑄造、金屬加工等行業的爐前及實驗室定量分析。
背照式CCD光譜儀技術,廣泛應用于冶金、鑄造、機械、汽車制造、航空航天、兵器、金屬加工等領域的生產工藝控制,爐前化驗,中心實驗室成品檢驗。
CCD,是英文ChargeCoupledDevice即電荷耦合器件的縮寫,背照式CCD光譜儀是在MOS晶體管電荷存儲器的基礎上發展起來的,突出的特點是以電荷作為信號,而不是以電流或電壓作為信號的。在P型或N型硅單晶的襯底上生長一層厚度約為120~150nm的SiO2層,然后按一定次序沉積m行n列個金屬電極或多晶硅電極作為柵極,柵極間隙約2.5μm,于是每個電極與其下方的SiO2和半導體間構成了一個MOS結構,這種結構再加上輸入、輸出結構就構成了m×n位CCD(m>1,n≥1);當n=1時,CCD器件被稱為線陣CCD;當n>1時,則為面陣CCD。CCD按受光方式分為前感光和背感光兩種。前感光CCD由于正面布置著很多電極,光經電極反射和散射,不僅使得響應度大大減低(量子效率通常低于50%),也因為多次反射產品的干涉效應使光譜響應曲線出現馬鞍形的起伏;背感光CCD由于避免了上述問題,因而響應度大大提高,量子效率可達到80%以上。